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1、PCBPCB過程檢驗及成品檢驗過程檢驗及成品檢驗2、我司檢驗工序簡介4、AOI檢測原理及控制要點簡介5、電測試原理及控制要點簡介內容簡介：內容簡介：6、成品外觀及符合性檢驗1、品質檢驗基礎知識3、過程檢驗控制要點簡介1、品質檢驗基礎知識品質檢驗基礎知識：品質檢驗方法：全數(shù)檢驗：抽樣檢驗：將送檢批的產品或物料全部加以檢驗而不遺漏的檢驗方法。從一批產品的所有個體中抽取部分個體進行檢驗，并根據樣本的檢驗結果來判斷整批產品是否合格的活動，是一種典型的統(tǒng)計推斷工作。全數(shù)檢驗適用范圍：批量較小，檢驗簡單且費用較低；產品必須是合格；產品中如有少量的不合格，可能導致該產品產生致命性 影響。品質檢驗基礎知識：抽

2、樣檢驗適用范圍：a.對產品性能檢驗需進行破壞性試驗；b.批量太大，無法進行全數(shù)檢驗；c.需較長的檢驗時間和較高的檢驗費用；d.允許有一定程度的不良品存在。品質檢驗基礎知識：抽樣檢驗中的有關術語：a.檢驗批：同樣產品集中在一起作為抽驗對象；一般來說，一個生產批即為一個檢驗批?？梢詫⒁粋€生產批分成若 干檢驗批，但一個檢驗批不能包含多個生產批，也不能 隨意組合檢驗批。b.批量：批中所含單位數(shù)量；c.抽樣數(shù)：從批中抽取的產品數(shù)量；品質檢驗基礎知識：檢驗作業(yè)分類：進料（貨）檢驗；生產過程檢驗；最終檢驗控制：即成品出貨檢驗。（Outgoing Q.C）品質檢驗基礎知識：1、進料（貨）檢驗（IQC）：是工廠

3、制止不合格物料進入生產環(huán)節(jié)的首要控制點。（Incoming Quality Control）2、依據的標準：原材料、外購件技術標準、進貨檢驗和試驗控制程序、理化檢驗規(guī)程等等。3、進料檢驗項目及方法：a 外觀：一般用目視、手感、對比樣品進行驗證；b尺寸：一般用卡尺、千分尺等量具驗證；c特性：如物理的、化學的、機械的特性，一般用檢測儀器和特定方法來驗證。品質檢驗基礎知識：4、進料檢驗方法：a 全檢；b抽檢。5、檢驗結果的處理：a 接收；b拒收（即退貨）；c 讓步接收；d全檢（挑出不合格品退貨）；e 返工后重檢。品質檢驗基礎知識：生產過程檢驗（IPQC）：一般是指對物料入倉后到成品入庫前各階段的生產

4、活動的品質控制，即Inprocess Quality Control。而相對于該階段的品質檢驗，則稱為FQC（Final Quality Control）。1、生產過程檢驗（IPQC）主要內容包括：1、過程品質控制（IPQC）；2、過程品質檢驗。品質檢驗基礎知識：客戶協(xié)議、產品檢驗要則、MI、作業(yè)指導書、工序檢驗標準、過程檢驗和試驗程序3、生產過程檢驗的方式：a.首件自檢、互檢、專檢相結合；b.過程控制與抽檢、巡檢相結合；c.多道工序集中檢驗；d.逐道工序進行檢驗；e.產品完成后檢驗；f.抽樣與全檢相結合；2、生產過程檢驗依據的標準：品質檢驗基礎知識：一、過程品質控制（IPQC）：過程品質控制

5、（IPQC）是對生產過程做巡回檢驗。其內容包括：a、首件檢驗；b、材料核對；c、巡檢：保證合適的巡檢時間和頻率，嚴格按檢驗標準或 作業(yè)指導書檢驗。包括對產品質量、工藝規(guī)程、機器運 行參數(shù)、物料擺放、標識、環(huán)境等的檢驗;d、檢驗記錄，應如實填寫。品質檢驗基礎知識：二、過程品質檢驗：過程產品品質檢驗：是針對產品完工后的品質驗證以確定該批產品可否流入下道工序，屬定點檢驗或驗收檢驗。1、過程品質檢驗包括內容：a）品質檢驗；b）品質異常的處理及反饋；c）質量記錄。品質檢驗基礎知識：2、過程品質檢驗：a）外觀；b）尺寸；c）理化特性等。B、檢驗方法：全檢與抽檢相結合A、檢驗項目：品質檢驗基礎知識：3、品質

6、異常的反饋及處理：自己可判定的，按規(guī)定自行處理；自己不能判定的，則持不良樣板交上級確認，再通 知糾正或處理；應如實將異常情況進行記錄；對糾正或改善措施進行確認，并追蹤處理效果；對半成品、成品的檢驗應作好明確的狀態(tài)標識，并 監(jiān)督相關部門進行隔離存放。品質檢驗基礎知識：4、質量記錄 為已完成的品質作業(yè)活動和結果提供客觀的證據，并使檢驗結果具有可追溯性。質量記錄的要求：必須做到：準確、及時、字跡清晰、完整并加蓋檢 驗印章或簽名。還要做到：及時整理和歸檔、并貯存在適宜的環(huán)境 中。品質檢驗基礎知識：2、我司檢驗工序簡介檢測工序簡介1、IQC：來料檢查。2、內檢3、外檢4、測試5、成檢8、終審：客戶符合性

7、審核及部分物理性能審核。9、巡檢：過程控制檢查。6、物理室7、化驗室一、內檢1、檢驗目的2、檢驗方法3、檢驗內容 檢驗并監(jiān)控內層圖形制作狀況，防止缺陷板流入下工序，從而造成報廢。全檢與少量抽檢相結合；目檢與AOI相結合。內層芯板圖形的開、短路，余銅、缺口，曝虛，欠腐蝕，流膠圖的完整性，以及內層圖形的對位等。檢測工序簡介二、外檢1、檢驗目的2、檢驗方法3、檢驗內容 檢驗并監(jiān)控外層圖形制作狀況，防止缺陷板流入下工序，從而造成報廢及修復成本的提高。全檢與少量抽檢相結合；目檢與AOI相結合。外層圖形的開、短路，余銅、缺口，曝虛，欠腐蝕，偏孔，偏盤等。檢測工序簡介三、電測試1、檢驗目的2、檢驗方法3、檢

8、驗內容 檢驗生產出來的PCB線路網絡狀態(tài)，是否符合客戶原設計要求，以滿足客戶電氣性能的需要。100%電測試。PCB的導通性及絕緣性。檢測工序簡介四、成檢1、檢驗目的2、檢驗方法3、檢驗內容 對成品板進行100%的外觀檢驗，確保產品外觀質量符合用戶要求，防止不合格產品出廠。100%的目檢。板面標記、板邊、金手指、阻焊層、基材層、次表面基材、字符、涂覆層、藍膠層 等外觀缺陷。檢測工序簡介五、物理室1、檢驗目的2、檢驗方法3、檢驗內容抽檢孔內可靠性.常規(guī)PCB各項可靠性指標等等。公司產品可靠性的監(jiān)控！檢測工序簡介六、化驗室1、檢驗目的2、檢驗方法3、檢驗內容周期性抽檢所有藥水濃度。濕法藥水穩(wěn)定性的監(jiān)

9、控。檢測工序簡介3、過程檢驗控制要點簡介30分鐘分組討論并介紹4、AOI檢測原理及控制要點簡介AOI1、AOI：(自動自動）：（：（光學光學）I I：OR OR（檢測機檢測機）自動光學檢測機：自動光學檢測機：利用光線通過光學鏡片照射在待檢板上，通過接收器接收反射（或激發(fā)）光信號，根據光信號強弱產生相應電信號從而使設備區(qū)分板面的狀況，然后與AOI寄存信號比對報出缺陷，并進行確認處理。2、分類：激光機、普通光機、紅外線機等。3、AOI工作原理：資料處理母板學習板面掃描影像處理邏 輯處 理缺陷處理AOI類比類比數(shù)位化數(shù)位化Binary類類比比類類比比轉數(shù)轉數(shù)位位資料線路資料線路A/D數(shù)位化數(shù)位化(G

10、ray level)數(shù)位轉換數(shù)位轉換二進位資二進位資料線路料線路二進位影像二進位影像(0 或或 1)AOI掃瞄線掃瞄線光較強光較強光較弱光較弱AOI0 0255255AOI金屬金屬0 0255255AOI銅箔銅箔基材基材當前的掃瞄線當前的掃瞄線AOI二進位圖象二進位圖象條狀的二進位圖象被重組條狀的二進位圖象被重組后后,再由邏輯總成處理再由邏輯總成處理PCBPCB板板二進位圖象二進位圖象AOI四、內、外檢工藝控制內容1、解析度：（分辨率）高解析度高解析度低解析度低解析度解析度大小設定解析度大小設定:影影響對細響對細微缺點微缺點的偵測的偵測能力能力影影響對線寬響對線寬及及線線距距的測的測量量精準度

11、精準度 影影響產響產出量出量AOIPixel:0.5 milsPixel:0.4 milsPixel:0.3 mils解析度與檢測缺點能力的比較:1.產出量2.假點率AOI1 1 milmil0.2 0.2 milmil缺點檢測率缺點檢測率產能產能線寬線寬/間距測間距測量精確度量精確度較差較差較好較好高高低低較不精確較不精確較精確較精確AOIPixels大小大小 線寬線寬/間距測量間距測量8 8 mil Linemil Line8 8 個個 PixelsPixels8 8 mil Linemil Line 7 7 to 9 to 9 個個 PixelsPixelsAOIPixels大小大小 小

12、缺點檢測小缺點檢測=1=1 Mil ShortMil Short1 1 Mil Pixel SizeMil Pixel Size三種可能的二進位圖象三種可能的二進位圖象AOIPixel設定原則設定原則AOI2、板厚設定：板厚設置的正確與否會影響焦距的精確度板厚設置的正確與否會影響焦距的精確度.良好的焦距良好的焦距不良的焦距不良的焦距AOI3、臨界值：區(qū)分銅與基材的臨界點。臨界值選擇的影響低低臨界臨界值將導致線寬變寬值將導致線寬變寬高高臨界臨界值將導致間距變寬值將導致間距變寬理想的理想的臨界臨界值使得圖象更值使得圖象更精確而且假缺點減少精確而且假缺點減少!AOI氧化氧化臟點臟點303030303

13、03030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303030303075 145 170 195 200 180 150 7030303030303030303030303040 140 195 200 200 200 200 200 200 195 140 4030303030303030303045 155 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 150 403030303030303030 150 200 200 200 200 2

14、00 200 200 200 200 200 200 200 135 3030303030303055 190 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 195 90303030303030 165 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 140 303030303030 180 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 180 303030303030 195 200 200 200 200 200

15、 200 200 200 200 200 200 200 200 200 190 303030303030 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 190 303030303030 165 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 180 303030303030 150 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 140 30303030303070 195 200 200 2

16、00 200 200 200 200 200 200 200 200 200 190 5530303030303030 135 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 170 303030303030303050 155 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 175 4530303030303030303050 145 195 200 200 200 200 200 200 200 195 4530303030303030303030303060 195 200 200 200 200 85503

17、03030303030303030303030303030 135 200 200 200 200 7730303030303030303030303030303030 135 200 200 200 200 7730303030303030303030303030303030 135 200 20090200 7730303030303030303030303030303030 135 200 200 200 200 7730303030303030303030303030303030 135 200 200 200 200 773030303030303030303030308030303

18、0 135 200 200 200 200 7730303030303030303030303030303030 135 200 200 200 200 7730303030303030303030303030303030 135 200 200 200 200 7730303030303030303030303030303030 135 200 200 200 200 77303030303030303075 145 170 195180 150 7040 140 195195 140 4045 155150 4015013555 190195 90165140180180195190200

19、19016518015014070 195190 5513517050 155175 4550 145 195195 4560 1958550135771357713590771357713577801357713577135771357775 145 170 195180 150 7040 140 195195 140 4045 155150 4015013555 190195 9016514018018019519020019016518015014070 195190 5513517050 155175 4550 145 195195 4560 195855013577135771359

20、07713577135778013577135771357713577典型的灰階圖典型的灰階圖AOI75 145 170 195180 150 7040 140 195195 140 4045 155150 4015013555 190195 9016514018018019519020019016518015014070 195190 5513517050 155175 4550 145 195195 4560 19585501357713577135907713577135778013577135771357713577低低臨界臨界值值404020020025525530300 0低低臨界

21、臨界值將導致值將導致白色象素變多白色象素變多,因此線寬變寬因此線寬變寬!AOI75 145 170 195180 150 7040 140 195195 140 4045 155150 4015013555 190195 9016514018018019519020019016518015014070 195190 5513517050 155175 4550 145 195195 4560 1958550135771357713590771357713577801357713577135771357716016020020025525530300 0高高臨界臨界值將導致值將導致白色象素變少白

22、色象素變少,因因此間距變寬此間距變寬!高高臨界臨界值值AOI75 145 170 195180 150 7040 140 195195 140 4045 155150 4015013555 190195 9016514018018019519020019016518015014070 195190 5513517050 155175 4550 145 195195 4560 19585501357713577135907713577135778013577135771357713577858520020025525530300 0理想的理想的臨界臨界值使值使得圖象更精確而得圖象更精確而且假缺點

23、減少且假缺點減少!AOI線寬參數(shù)線寬參數(shù) 7 7 mil mil 實際線寬實際線寬MIN LINE=6 milsMIN LINE=6 milsPixel size=1 milPixel size=1 mil2 2 mil mil 線寬線寬如果實際線路寬度比最小線寬參數(shù)小則報告為缺點。如果實際線路寬度比最小線寬參數(shù)小則報告為缺點。最小線寬正常線寬AOI間距間距參數(shù)參數(shù) 目目 的的:參數(shù)設置參數(shù)設置:正常間距正常間距最小間距最小間距找出任何兩找出任何兩銅面銅面之間有間之間有間距不足的地方距不足的地方.AOI2、修板不良內、外檢檢測存在的隱患1、漏檢測AOI5、電測試原理及控制要點簡介ET 電氣性能

24、測試，通常稱為PCB的“通”、“斷”測試，或“開”、“短”路測試，以檢驗生產出來的PCB線路網絡狀態(tài)，是否符合原PCB的設計要求。測試內容：導通測試絕緣測試（包括：開路、短路、微開、微短等）ET1、導通測試測試機R導通測試：通過對某一待測網絡的一端施加電流，在網絡的另一端進行測量，根據電流的變化值來判斷這一網絡（或導線）的導通情況。ii-i導通阻值：為確定導通情況而設定的臨界值；當實際測試阻值大于等于該設定值時報開路，反之為正常導通。ET絕緣測試：對某一待測網絡（或導線）施加電壓，在其他網絡（或導線）上檢測是否有電壓值，以此來判斷網絡（或導線）之間是否絕緣。2、絕緣測試測試機Ru絕緣電壓：測試

25、絕緣用電壓。絕緣電阻：為確定絕緣情況而設定的臨界值；當實際測試阻值小于等于該設定值時報短路，反之為絕緣正常。網絡1網絡2ET3、電測試分類：通用針床測試專用針床測試針床測試移動探針（飛針）測試萬能無夾具測試無針床測試接觸式測試非接觸式測試電子束測試離子束測試光電子測試電測試ET4、我司主要的測試方式1、專用測試2、通用測試3、飛針測試接觸式測試針床測試無針床測試ET5、針床測試與無針床測試的區(qū)別1)、針床測試需要測試針床專用針床通用針床ET2)、無針床測試不需要測試針床，直接由移動探針進行測試。ET3）、針床測試與無針床測試的優(yōu)缺點針床測試：優(yōu)點：不需針床、測試成本低、靈活性高、周轉快、測試精

26、度高。缺點：測試速度慢、適用于小批量生產。優(yōu)點：測試速度快、設備成本低，適用于單一、量產化的產品。缺點：需要測試針床，且測試針床制作成本高、周期長、復雜、不能反復使用與其他料號，測試密度與精度受到限制。無針床測試（飛針測試）：ET4）、專用測試與通用測試的優(yōu)缺點專用測試：專用測試機專用測試架專用測試機連接排線ET優(yōu)點：測試速度快、設備成本低，適用于單一、量產化的產品；缺點：測試針床制作成本高、周期長、復雜、不能反復使用與其他料號，測試密度較小。專用測試架背面專用測試架裝針ET通用測試：優(yōu)點：測試速度較快，測試針床制作較簡單、成本低、周期短、部分零配件可以反復使用于其他料號，測試密度相對較高。缺

27、點：設備成本高，適用于量產化的產品。通用測試架通用測試機通用測試機底座ET電測試運作流程：測試程序處理針床制作電測試不合格處理飛針測試ET1、測試程序處理、測試程序處理ET1）、網絡分析 通過專用軟件進行圖形分析，識別相互連接的同一網絡，互不相連的不同網絡之間的關系，并在各網絡端點生成測試點。ET2）、測試點處理通用測試方式的撒針專用測試方式的繞線A針型選擇；B通用撒針；C專用繞線。ET3）、輸出A、飛針測試方式輸出測試程序；B、通用測試方式輸出鉆孔程序、測試程序；C、專用測試方式輸出針床鉆孔程序、針床繞線程序、測試程序。ET2、針床制作針床鉆孔針床組裝ET測試工序工藝流程ET2、測試壓痕測試

28、針壓痕測試針劃傷異物壓傷板等測試對產品存在的隱患1、測試漏測測試程序漏測點測試誤放板排故漏量等ET測試能力及測試成本控制 測試編程人員根據不同測試方式的測試能力及測試成本，選擇較優(yōu)的測試方法。其他ET6、成品外觀及符合性檢驗成品外觀及符合性檢驗：1、認識、認識PCB成品上所具有的特性及其成品上所具有的特性及其可能存在的缺陷：可能存在的缺陷：分組討論10分鐘，并與大家分享 板邊板邊 毛刺/毛頭 缺口/暈圈 板角/板邊損傷板面板面 板面污漬 水漬 異物（非導體）錫渣殘留 板面余銅 劃傷 壓痕 板面擦花 凹坑 露織物/顯布紋 次板面次板面 白斑/微裂紋 分層/起泡 外來夾雜物 內層棕化或黑化層擦傷導

29、線導線 導線露銅孔孔 鉛錫堵孔 異物（不含綠油）堵孔 PTH孔壁不良 孔壁鍍瘤/毛頭 暈圈 粉紅圈焊盤焊盤 焊盤露銅 焊盤拒錫 焊盤縮錫 焊盤損傷 焊盤脫落、浮離 焊盤變形器件孔的外層環(huán)寬 過線孔的外層環(huán)寬 標記標記 字符錯印 字符漏印 字符模糊 基準點不良 標記錯位標記油墨上焊盤2、成品外觀檢驗內容：綠油綠油導線表面覆蓋性 綠油橋斷裂 綠油脫落綠油氣泡、分層綠油入孔 綠油入金屬化孔（非塞孔）綠油入非金屬化孔綠油塞過孔 綠油波浪/起皺/紋路 吸管式綠油空隙 對孔（焊盤）的開窗 對SMT焊盤的開窗 跳印印雙層綠油顏色不均3、成品外觀檢驗流程4、成品符合性檢驗項目：檢驗項目檢驗項目標準標準檢驗方法

30、檢驗方法檢驗項目檢驗項目標準標準檢驗方法檢驗方法板材類型客戶要求目視對板字符覆蓋面向客戶要求目測銅箔客戶要求檢查轉工單標記客戶要求目測板厚客戶要求WI-2FQA-06.1通斷測試有測試標記目測翹曲度客戶要求WI-2FQA-06.1外形尺寸客戶要求WI-2FQA-06.1表面涂覆類型客戶要求目視槽尺寸客戶要求WI-2FQA-06.1表面涂覆層附著力無脫落WI-2PL-06.08V-CUT尺寸客戶要求WI-2FQA-06.1線寬、線距客戶要求外檢工序測試金插頭倒角尺寸客戶要求WI-2FQA-06.1最 小 B G A、QFP焊盤客戶要求讀數(shù)顯微鏡測量金手指的尺寸客戶要求WI-2FQA-06.1阻焊

31、型號顏色客戶要求目視對板孔徑測量客戶要求WI-2FQA-06.1油墨附著力客戶要求WI-2PL-06.08線路面向客戶要求用原稿比對油墨硬度客戶要求WI-2PL-06.15導電圖形客戶要求用原稿比對蘭膠類型客戶要求目測阻焊圖形客戶要求用原稿比對蘭膠覆蓋面向客戶要求目測字符圖形客戶要求用原稿比對蘭膠厚度客戶要求WI-2FQA-06.1包裝檢查客戶要求WI-2FQA-06.2字符顏色客戶要求目測全尺寸檢測客戶要求WI-2FQA-06.14、出貨可靠性控制項目：Reliability Control可靠性控制可靠性控制Thermal shock熱沖擊ISTReflow模擬回流Steady state

32、 tem.&hum.濕熱老化Hole plating pulled out孔壁拉脫Peel strength 剝離強度Pad pulled out焊盤拉脫Plating adhesion鍍層附著力Finish adhesion涂覆層附著力Environmental test環(huán)境環(huán)境Mechanical test機械機械Sm adhesion油墨附著力Steady state tem.熱老化Thermal stress熱應力Solvent resistant 耐溶劑Plating elongation鍍層延展性Solderability可焊性TgMicro-inspection微觀觀察Plating thickness鍍層厚度Other其他其他Finish thickness涂覆層厚度Cleanliness離子污染度Bow&twist翹曲MIR 濕熱絕緣電阻Dielectric withstanding voltage 耐電壓SIR 絕緣電阻Moi.withstanding vol.濕熱耐電壓Inductance 電感Electrical test電性能電性能Resistance阻抗Withstanding current耐電流Q&A