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《集成電路設(shè)計原理》試卷及答案解讀.doc

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《集成電路設(shè)計原理》試卷及答案解讀.doc

電科《集成電路原理》期末考試試卷 一、填空題 1.(1分) 年,第一次觀測到了具有放大作用的晶體管。 2.(2分)摩爾定律是指 。 3.集成電路按工作原理來分可分為 、 、 。 4.(4分)光刻的工藝過程有底膜處理、涂膠、前烘、 、 、 、 和去膠。 5.(4分)MOSFET可以分為 、 、 、 四種基本類型。 6.(3分)影響MOSFET閾值電壓的因素有: 、 以及 。 7.(2分)在CMOS反相器中,Vin,Vout分別作為PMOS和NMOS的 和 ; 作為PMOS的源極和體端, 作為NMOS的源極和體端。 8.(2分)CMOS邏輯電路的功耗可以分為 和 。 9.(3分)下圖的傳輸門陣列中,各管的閾值電壓,電路中各節(jié)點的初始電壓為0,如果不考慮襯偏效應(yīng),則各輸出節(jié)點的輸出電壓Y1= V,Y2= V,Y3= V。 10.(6分)寫出下列電路輸出信號的邏輯表達式:Y1= ;Y2= ;Y3= 。 二、畫圖題:(共12分) 1.(6分)畫出由靜態(tài)CMOS電路實現(xiàn)邏輯關(guān)系的電路圖,要求使用的MOS管最少。 2.(6分)用動態(tài)電路級聯(lián)實現(xiàn)邏輯功能,畫出其相應(yīng)的電路圖。 三、簡答題:(每小題5分,共20分) 1.簡單說明n阱CMOS的制作工藝流程,n阱的作用是什么? 2.場區(qū)氧化的作用是什么,采用LOCOS工藝有什么缺點,更好的隔離方法是什么? 3.簡述靜態(tài)CMOS電路的優(yōu)點。 4.簡述動態(tài)電路的優(yōu)點和存在的問題。 四、分析設(shè)計題:(共38分 1.(12分)考慮標準0.13 CMOS工藝下NMOS管,寬長比為W/L=,柵氧厚度為,室溫下電子遷移率,閾值電壓=0.3V,計算V、V和0.9V時的大小。已知:,。 2.(12分)如圖所示,M1和M2兩管串聯(lián),且,請問: 1) 若都是NMOS,它們各工作在什么狀態(tài)? 2) 若都是PMOS,它們各工作在什么狀態(tài)? 3) 證明兩管串聯(lián)的等效導(dǎo)電因子是。 3.(14分)設(shè)計一個CMOS反相器,要求在驅(qū)動10fF外部負載電容的情況下,輸出上升時間和下降時間都不能大于40ps,并要求最大噪聲容限不小于0.55V。針對0.13工藝,已知:,,,,,,,,ln14.33=2.66,ln14=2.64。 第 5 頁 共5 頁 《集成電路原理》期末考試試卷 參考答案 一、填空題:(共30分) 1.(1分)1947 2.(2分)集成電路中的晶體管數(shù)目(也就是集成度)大約每18個月翻一番 3.(3分)數(shù)字集成電路,模擬集成電路,數(shù)?;旌霞呻娐? 4.(4分)曝光,顯影,堅膜,刻蝕 5.(4分)增強型NMOS,耗盡型NMOS,增強型PMOS,耗盡型PMOS 6.(3分)柵電極材料,柵氧化層的質(zhì)量和厚度,襯底摻雜濃度 7.(2分)柵極,漏極,VDD,GND 8.(2分)動態(tài)功耗,靜態(tài)功耗 9.(3分)4,3,2 10.(6分),, 二、畫圖題:(共12分) 1.(6分) 2.(6分) 三、簡答題:(每小題5分,共20分) 1.答:n阱CMOS的制作工藝流程:1.準備硅片材料;2.形成n阱;3.場區(qū)隔離;4.形成多晶硅柵;5.源漏區(qū)n+/p+注入;6.形成接觸孔;7.形成金屬互連;8.形成鈍化層。 n阱的作用:作為PMOS管的襯底,把PMOS管做在n阱里。 2.答:場區(qū)氧化的作用:隔離MOS晶體管。 LOCOS工藝的缺點:會形成鳥嘴,使有源區(qū)面積比版圖設(shè)計的小。 更好的隔離方法:淺槽隔離技術(shù)。 3.答:1.是一無比電路,具有最大的邏輯擺幅;2.在低電平狀態(tài)不存在直流導(dǎo)通電流; 3.靜態(tài)功耗低;4.直流噪聲容限大;5.采用對稱設(shè)計獲得最佳性能。 4.答:動態(tài)電路的優(yōu)點:1.減少了MOS管數(shù)目,有利于減小面積; 2.減小了電容,有利于提高速度; 3.保持了無比電路的特點。 動態(tài)電路存在的問題:1.靠電荷存儲效應(yīng)保存信息,影響電路的可靠性; 2.存在電荷分享、級聯(lián)、電荷泄漏等問題; 3.需要時鐘信號控制,增加設(shè)計復(fù)雜性。 四、分析設(shè)計題:(共38分) 1.(12分)解:計算MOSFET導(dǎo)電因子: 4分 當V(>=0.3V)、V(<)時,NMOS管處于線性區(qū),線性區(qū)電流為: 4分 當V(>=0.3V)、V(>)時,NMOS管處于飽和區(qū),飽和區(qū)電流為: 4分 2.(12分)解: 1) 設(shè)中間節(jié)點為C。分析知當電壓滿足VB < VG - VT < VA時,在電路達到穩(wěn)態(tài)之后,M1和M2都導(dǎo)通。于是對M1而言,有,即 Vc < VG -VT。 又VG - VT < VA,即,故M1工作于飽和區(qū)。而對M2而言,有,故M2工作于線性區(qū)。 3分 2) 依據(jù)NMOSFET和PMOSFET的電壓反轉(zhuǎn)對稱性知,若兩管都是PMOSFET,則M1工作于線性區(qū),M2工作于飽和區(qū)。 3分 3) 取一例證明。以此題中的NMOSFET和給定的偏壓為例,兩個NMOS管等效為一個NMOS管后,依VB < VG - VT < VA知該等效管應(yīng)工作于飽和區(qū)。故對M1、M2和等效管Meff有: 則有 由== 知: 即Keff = K1 K2 / (K1 + K2) 6分 3.(14分)解:先考慮瞬態(tài)特性要求: 由 (4分) 得, (2分) 而 (2分) 代入相關(guān)參數(shù)可得,即 (2分) 考察噪聲容限: 由 (2分) 得: (2分) 所以所設(shè)計的CMOS反相器符合題意要求,即 8

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