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產(chǎn)品漏電的失效分析獲獎科研報告

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產(chǎn)品漏電的失效分析獲獎科研報告

產(chǎn)品漏電的失效分析獲獎科研報告 摘  要:漏電,是一種在電子產(chǎn)品上經(jīng)常出現(xiàn)的現(xiàn)象。導(dǎo)致漏電的原因多種多樣,如電子產(chǎn)品未能良好接地、電子產(chǎn)品中的器件存在損壞、焊接工藝不良等,都可能導(dǎo)致電子產(chǎn)品出現(xiàn)漏電的現(xiàn)象。近年來,隨著PCB板焊接工藝的發(fā)展,各種各樣的焊接方法開始應(yīng)用到實際產(chǎn)品中,而由于焊接工藝而導(dǎo)致的漏電現(xiàn)象也越來越頻繁,當(dāng)PCB板焊接時使用的阻焊膜表面附著過多的錫,在環(huán)境變化時有可能會引起漏電從而導(dǎo)致電子產(chǎn)品部分功能失效。本文結(jié)合一個具體案例,對由于焊接工藝導(dǎo)致的漏電現(xiàn)象進行分析,希望能對提高電子產(chǎn)品的安全性及可靠性提供一定參考。 關(guān)鍵詞:漏電;阻焊膜附著錫過多;失效分析 引言 漏電,就是電子產(chǎn)品的某一個地方因某種原因(風(fēng)吹、雨打、日曬、受潮、碰壓、劃破、摩擦、腐蝕等),導(dǎo)致電子產(chǎn)品與地之間有部分電流通過,從而導(dǎo)致PFC電壓偏低現(xiàn)象,造成產(chǎn)品使用功能失效。本文通過一個漏電案例分析,希望對部分失效分析能起到一定的指導(dǎo)作用。 1  案例分析 1.1線路排查分析 1#樣品和2#樣品均標識為“PFC電壓偏低”,即PFC工作后大電容電壓低于設(shè)計最低值383V(設(shè)計值為450V),通過PFC電壓檢測后發(fā)現(xiàn)R9806、R9808、R9811阻值偏小。然而,靜態(tài)條件下測試上述電阻阻值均正常,均為1MΩ。1#樣品通電后,實測大電容兩端電壓約為360V,確認存在電壓偏低的現(xiàn)象。R9806兩端電壓108V,R9808電壓108V,R9811電壓113V,各電阻分壓基本一致,因此并不存在單個電阻阻值變小的情況,且考慮到三個電阻的阻值同時變小為相同的阻值可能性極低。因此,分析認為是大電容兩端(即對地)直接發(fā)生漏電,導(dǎo)致PFC電壓的減小。 3#樣品標識為“Q9205漏電”,背景為加濕條件下Q9205 C級和B級之間有漏電流產(chǎn)生,隨著電源的工作漏電流加大,漏電流導(dǎo)致R9230兩端電壓升高,觸發(fā)Q9205和Q9204組成自鎖回路導(dǎo)通。 1.2外觀檢查 觀察失效樣品板面,1#樣品、2#樣品在C9801和C9802大電容區(qū)域板面絕緣位置均發(fā)現(xiàn)白色異物,3#樣品在Q9205的B和C腳焊點間也發(fā)現(xiàn)大量白色異物。此外,板面其他區(qū)域普遍存在類似白色異物。 1.3 SEM&EDS分析 截取上述區(qū)域進行表面SEM&EDS分析,結(jié)果顯示,焊點間阻焊膜表面普遍存在較高含量Sn,代表性結(jié)果見圖1~2。 1.4 離子色譜分析 分別對失效品板面(波峰焊接面)及光板板面進行離子色譜分析,結(jié)果發(fā)現(xiàn)焊接后的板面離子濃度高于光板面離子濃度,但仍滿足當(dāng)前行業(yè)內(nèi)的相關(guān)要求,并不存在離子殘留過高的現(xiàn)象,測試結(jié)果見表1。 1.5 綜合分析 通過電路排查分析和實際測量,R9806、R9808、R9811電阻阻值正常,大電容電壓低是由于其對地漏電所致。 外觀觀察板面,發(fā)現(xiàn)板面存在較多白色異物殘留,經(jīng)SEM&EDS分析確認板面存在的白色異物主要成分為Sn。結(jié)果表明,板面在完成器件焊接后殘留了大量Sn,大大降低了焊點間的絕緣能力。對于大電容兩端,原設(shè)計電壓為450V,焊點間板面由于大量Sn殘留而導(dǎo)致其絕緣性不足,在高電壓下很容易發(fā)生漏電現(xiàn)象,漏電會造成電壓降低,最終使大電容兩端電壓降低至383V,最終導(dǎo)致PFC電壓不足失效。對于Q9205,同樣是由于板面存在大量Sn覆蓋,直接造成Q9205的B極和C極之間出現(xiàn)漏電現(xiàn)象,導(dǎo)致R9230兩端電壓升高,最后觸發(fā)Q9205、Q9204組成自鎖回路的導(dǎo)通而失效。 通過離子色譜結(jié)果顯示,焊接后板面離子濃度相比光板有所升高,但仍滿足當(dāng)前行業(yè)內(nèi)的相關(guān)要求,因此可以排除助焊劑焊接后板面離子殘留濃度過高導(dǎo)致漏電。 綜上所述,可以認定產(chǎn)品進行波峰焊接后,由于未及時進行清理工作,導(dǎo)致PCB阻焊膜表面粘附了過多Sn,Sn的存在大大降低了焊點間的絕緣能力,在使用過程中,由于產(chǎn)品使用了高電壓,同時在空氣中濕氣的共同作用下,使焊點間很容易發(fā)生漏電,且濕度越高則漏電現(xiàn)象越有可能發(fā)生。在樣品中,除大電容和Q9205位置外,其余位置也同樣存在出現(xiàn)漏電現(xiàn)象的可能性,只是可能未引起部分功能失效而未被發(fā)現(xiàn)。 根據(jù)這一現(xiàn)象,建議樣品在完成波峰焊接后,及時進行清理,保證樣品表面清潔,避免焊接過后Sn過多粘附于板面,從而降低失效的發(fā)生。 2  結(jié)束語 本文中的案例是由于樣品完成波峰焊接后,沒有及時進行清理,導(dǎo)致板面存在大量的多余物Sn,Sn的存在使焊點之間的絕緣性能下降,最后導(dǎo)致了漏電現(xiàn)象的發(fā)生,使產(chǎn)品部分功能出現(xiàn)失效。 本文通過結(jié)合一個具體案例,分析了由于焊接工藝而導(dǎo)致的漏電現(xiàn)象所造成的影響。因此希望我們在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中,需要對電子產(chǎn)品焊接過程的各個細節(jié)進行嚴格管控,從各個角度關(guān)注產(chǎn)品的性能,全面提高產(chǎn)品的可靠性、安全性。

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