機(jī)電畢業(yè)論文 疊層 QFN 封裝器件分層失效研究
-
資源ID:32103655
資源大?。?span id="24d9guoke414" class="font-tahoma">23.01KB
全文頁數(shù):5頁
- 資源格式: DOC
下載積分:15積分
快捷下載
會(huì)員登錄下載
微信登錄下載
微信掃一掃登錄
友情提示
2、PDF文件下載后,可能會(huì)被瀏覽器默認(rèn)打開,此種情況可以點(diǎn)擊瀏覽器菜單,保存網(wǎng)頁到桌面,就可以正常下載了。
3、本站不支持迅雷下載,請使用電腦自帶的IE瀏覽器,或者360瀏覽器、谷歌瀏覽器下載即可。
4、本站資源下載后的文檔和圖紙-無水印,預(yù)覽文檔經(jīng)過壓縮,下載后原文更清晰。
5、試題試卷類文檔,如果標(biāo)題沒有明確說明有答案則都視為沒有答案,請知曉。
|
機(jī)電畢業(yè)論文 疊層 QFN 封裝器件分層失效研究
廣西科技大學(xué)(籌)畢業(yè)論文課題名稱 疊層QFN封裝器件分層失效研究 系 別 機(jī)械系 專 業(yè) 機(jī)械電子工程 班 級(jí) 機(jī)電081 學(xué) 號(hào) 200800105016 姓 名 黃祖金 指導(dǎo)教師 羅海萍 年 月 日 廣西科技大學(xué)(籌 ) 畢業(yè)論文課題名稱 疊層QFN封裝器件分層失效研究 系 別 機(jī)械系 專 業(yè) 機(jī)械電子工程 班 級(jí) 機(jī)電081 姓 名 黃祖金 指導(dǎo)教師 羅海萍 教研室主任 梁蔓安 系 主 任 年 月 日一、課題的主要內(nèi)容和基本要求塑封電子器件吸潮并導(dǎo)致器件出現(xiàn)界面層裂問題,一直是電子器件失效的主要問題之一。隨著封裝器件向小型化、微型化發(fā)展,特別是微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)的迅猛發(fā)展,潮濕對(duì)這些電子器件可靠性的影響也越來越大,因此對(duì)潮濕引起的器件失效問題的研究顯得越來越重要。本文針對(duì)潮濕引起的器件界面層裂問題,采用理論分析和數(shù)值計(jì)算相結(jié)合的方法,選用疊層QFN封裝電子器件,首先分析和模擬了潮濕在塑封電子器件中的擴(kuò)散行為,其中計(jì)算模型的提出具有一定的創(chuàng)新性;然后建立器件內(nèi)部潮濕蒸汽壓力的計(jì)算模型,在考慮高溫焊接過程中潮濕質(zhì)量改變的情況下,合理地修正計(jì)算模型,得到更符合實(shí)際的蒸汽壓力計(jì)算公式;最后,采用基于裂紋尖端J積分判據(jù),對(duì)潮濕推動(dòng)界面裂紋擴(kuò)展的驅(qū)動(dòng)力進(jìn)行了分析計(jì)算,發(fā)現(xiàn)潮濕對(duì)界面裂紋的擴(kuò)展具有極大的驅(qū)動(dòng)作用。全文研究成果,對(duì)于深入理解潮濕擴(kuò)散行為,合理計(jì)算蒸汽壓力及后續(xù)研究中建立界面層裂的控制方程具有重要意義。二、進(jìn)度計(jì)劃與應(yīng)完成的工作進(jìn)度計(jì)劃1-3周,查找資料,英文翻譯;49周,ansys軟件下建立疊層QFN封裝模型;10-13周,在ansys中潮濕環(huán)境下對(duì)疊層QFN封裝進(jìn)行分析;對(duì)受潮疊層QFN封裝在高溫環(huán)境下進(jìn)行應(yīng)力分析;1415,撰寫論文,修改并完善系統(tǒng)軟件。應(yīng)完成的工作:1、完成二萬字左右的畢業(yè)設(shè)計(jì)說明書,其中包括300-500個(gè)單詞的英文摘要;2、完成與課題相關(guān),不少于四萬字符的指定英文資料翻譯(附英文原文);3、ansys模擬分析文件三、主要參考文獻(xiàn)、資料1 況延香、朱頌春,微電子封裝技術(shù),中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)出版社,2003.2 三維疊層CSP/BGA封裝的熱分析與焊點(diǎn)可靠性分析3 疊層封裝技術(shù)4 疊層CSP封裝分層失效問題的研究5 疊層QFN器件界面層裂失效研究6 QFN封裝分層失效與濕-熱仿真分析7 疊層CSP封裝的振動(dòng)模糊可靠性分析8 疊層芯片封裝技術(shù)與工藝探討9 芯片疊層封裝的失效分析和熱應(yīng)力模擬10 多芯片疊層微電子元器件封裝中的可靠性研究11 功率載荷下疊層芯片尺寸封裝熱應(yīng)力分析12 疊層芯片封裝可靠性分析與結(jié)構(gòu)參數(shù)優(yōu)化四、完成期限2012.5.21