測(cè)試技術(shù)指標(biāo)協(xié)議B.doc
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合同編號(hào):_測(cè)試技術(shù)指標(biāo)協(xié)議甲方:_乙方:_簽訂日期:_年_月_日第 1 頁(yè) 共 4 頁(yè)測(cè)試技術(shù)指標(biāo)協(xié)議_集成電路設(shè)計(jì)研究中心(甲方)和_公司(乙方)經(jīng)友好協(xié)商,對(duì)_項(xiàng)目的有關(guān)測(cè)試技術(shù)指標(biāo)問(wèn)題達(dá)成如下協(xié)議:一、乙方應(yīng)在本協(xié)議簽定_天內(nèi)將芯片資料,測(cè)試碼提供給甲方。二、甲方在乙方提供封裝好的芯片后_天內(nèi),將測(cè)試分析結(jié)果提交給乙方。三、具體測(cè)試要求:甲方按乙方要求,在測(cè)試時(shí)將pa4、pa5、pa6、pa7端經(jīng)3.3k電阻上拉至5伏。甲方在測(cè)試分析時(shí),應(yīng)讓_芯片工作在5v。乙方提供_功能測(cè)試碼文件(t_t格式)兩份。甲方使用乙方提供的功能測(cè)試碼文件,在1mhz下對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試分析。乙方認(rèn)為正常情況下,樣品的功能測(cè)試應(yīng)全部通過(guò),參數(shù)測(cè)試結(jié)果應(yīng)在下表給定的范圍內(nèi)。測(cè)試參數(shù)(常溫) 測(cè)試條件 最大值 典型值 最大值 單位 靜態(tài)工作電流 vdd=5v ua 動(dòng)態(tài)工作電流 vdd=5v ua 輸入高電平電壓 vdd=5v v 輸入低電平電壓 vdd=5v v 輸入高電平電流 vdd=5v,vih=5v ua 輸入低電平電流 vdd=5v,vil=0v ua 輸出高電平電壓 vdd=5v v 輸出低電平電壓 vdd=5v v 輸出高電平電流 vdd=5v,voh=4.2v ma 輸出低電平電流 vdd=5v,vol=0.4v ma如乙方提供的樣品中有_%滿(mǎn)足以上要求,甲方應(yīng)向乙方出具一份測(cè)試分析報(bào)告,并以附件形式(磁盤(pán)文件,t_t格式)提供詳細(xì)的測(cè)試數(shù)據(jù)。乙方若對(duì)甲方出具的測(cè)試分析報(bào)告及測(cè)試數(shù)據(jù)有任何疑問(wèn),必須在甲方測(cè)試分析工作完成之日起的兩個(gè)月內(nèi)向甲方提出。乙方若須增加測(cè)試分析內(nèi)容,必須與甲方協(xié)商解決。甲方: 乙方:第 3 頁(yè) 共 4 頁(yè)合同編號(hào):_本文至此結(jié)束,感謝您的瀏覽!(模板僅供參考)下載修改即可使用第 4 頁(yè) 共 4 頁(yè)- 1.請(qǐng)仔細(xì)閱讀文檔,確保文檔完整性,對(duì)于不預(yù)覽、不比對(duì)內(nèi)容而直接下載帶來(lái)的問(wèn)題本站不予受理。
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- 測(cè)試 技術(shù)指標(biāo) 協(xié)議
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