《數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)》實(shí)驗(yàn)報(bào)告撰寫模版.doc
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實(shí) 驗(yàn) 報(bào) 告實(shí)驗(yàn)名稱 _TTL邏輯門電路的變換_課程名稱 電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)(數(shù)字)院 系 部: 專業(yè)班級:學(xué)生姓名: 學(xué) 號:同 組 人: 實(shí)驗(yàn)臺號:指導(dǎo)教師: 成 績:實(shí)驗(yàn)日期:華北電力大學(xué)實(shí)驗(yàn)報(bào)告的撰寫要求實(shí)驗(yàn)報(bào)告要能真實(shí)的反映實(shí)驗(yàn)過程和結(jié)果,是對實(shí)驗(yàn)進(jìn)行總結(jié)、提高的重要環(huán)節(jié),應(yīng)當(dāng)認(rèn)真撰寫。實(shí)驗(yàn)報(bào)告的要求是有理論分析,要實(shí)事求是,字跡要清楚,文理要通順。實(shí)驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容包括:1、 實(shí)驗(yàn)?zāi)康募耙蟆?、 實(shí)驗(yàn)儀器:列出完成本次實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)條件。3、 實(shí)驗(yàn)原理:實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目的已知條件、技術(shù)指標(biāo)、實(shí)驗(yàn)電路。4、 實(shí)驗(yàn)步驟:根據(jù)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容的要求對電路進(jìn)行測量與調(diào)整方法、出現(xiàn)的故障以及排除故障的方法。5、 討論與結(jié)論:總結(jié)實(shí)驗(yàn)心得體會和收獲,解答思考題,對實(shí)驗(yàn)中存在的問題等進(jìn)行分析和討論,對實(shí)驗(yàn)的進(jìn)一步想法或改進(jìn)意見。 6、原始數(shù)據(jù)記錄:原始數(shù)據(jù)是指在實(shí)驗(yàn)過程中按照實(shí)驗(yàn)要求進(jìn)行測量的、未經(jīng)任何處理的數(shù)據(jù)和波形,是進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的依據(jù)。要求將實(shí)驗(yàn)教材中的“實(shí)驗(yàn)原始數(shù)據(jù)記錄”撕下,粘貼在實(shí)驗(yàn)報(bào)告“實(shí)驗(yàn)原始數(shù)據(jù)粘貼處”,復(fù)印無效。實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求:一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康募耙蠖?、儀器用具儀器名稱規(guī)格/型號數(shù)量備注數(shù)字信號發(fā)生器1邏輯轉(zhuǎn)換器174LS003三、實(shí)驗(yàn)原理四、實(shí)驗(yàn)步驟(包括原理圖、實(shí)驗(yàn)結(jié)果與數(shù)據(jù)處理)五、討論與結(jié)論(對實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象、實(shí)驗(yàn)故障及處理方法、實(shí)驗(yàn)中存在的問題等進(jìn)行分析和討論,對實(shí)驗(yàn)的進(jìn)一步想法或改進(jìn)意見。) 六、實(shí)驗(yàn)原始數(shù)據(jù)附頁1一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康募耙?. 熟悉用標(biāo)準(zhǔn)與非門實(shí)現(xiàn)邏輯變換的方法。2. 進(jìn)一步掌握門電路邏輯變換的測試方法。3. 學(xué)習(xí)基本元器件的選取和電路的連接方法。4. 學(xué)習(xí)Multisim中單刀開關(guān)的使用方法。5. 學(xué)習(xí)Multisim中數(shù)字信號發(fā)生器、邏輯轉(zhuǎn)換器等虛擬儀器的使用方法。二、儀器用具(略)三、實(shí)驗(yàn)原理借助摩根定理,可以把“或”、“與或”、“異或”、“同或”等邏輯關(guān)系用“與非門”來實(shí)現(xiàn)。如:四、實(shí)驗(yàn)步驟(包括原理圖、實(shí)驗(yàn)結(jié)果與數(shù)據(jù)處理)1. 用TTL與非門組成下列邏輯電路,并在Multisim中進(jìn)行仿真,測試它們的邏輯功能,列表記錄。輸入信號可由數(shù)字信號發(fā)生器或單刀開關(guān)給出,輸出可以采用指示燈顯示。(1)與或門 F=AB+CD與非表達(dá)式:與非電路圖:真值表(做完實(shí)驗(yàn)后的整理數(shù)據(jù))ABCD0000000100100011010001010110011110001001101010111100110111101111(2)異或門 F=AB(3)同或門 F=AB2. 在Multisim中用TTL與非門構(gòu)成一個(gè)半加器,輸入為Ai、Bi,輸出為Si、Ci,仿真并測試其功能。真值表:表達(dá)式:與非表達(dá)式:電路圖:測試功能:AiBiSiCi00011011五、討論與結(jié)論(對實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象、實(shí)驗(yàn)故障及處理方法、實(shí)驗(yàn)中存在的問題等進(jìn)行分析和討論,對實(shí)驗(yàn)的進(jìn)一步想法或改進(jìn)意見。)1、出現(xiàn)的問題2、改進(jìn)意見3、心得體會實(shí)驗(yàn)原始記錄粘貼處- 1.請仔細(xì)閱讀文檔,確保文檔完整性,對于不預(yù)覽、不比對內(nèi)容而直接下載帶來的問題本站不予受理。
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